| Seica在NEPCON推出最新探针测试解决方案 |
| 来源： 作者： 发布时间：2007-09-03
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Seica在2007华南NEPCON推出其世界级飞针测试解决方案系列的最新和最佳产品。 ]_d$<YTD2
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Seica的AERIAL M4飞针测试系统专为满足行业对高故障覆盖率、高速、易用性、灵活性和成本效益的需求而设计，专业和非专业测试人员均可操作，是高成本效益测试战略的一部分。 azu C8]<q*
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AERIAL M4是一种垂直MDA/线内飞针，可同时从两面对装配电路板进行测试。该系统采用四个完全独立的移动测试飞针，同时对待测设备（UUT）的两面进行测试（每面各用两枚飞针），从而最大程度地提高了使用灵活性，减少了板开发所需的时间和成本。AERIAL M4极其紧凑的垂直结构使其能够轻松地装载和测试所有极大型板。由于AERIAL M4提供卓越的固定系统，因此可确保板在测试期间不发生振动或移动。AERIAL M4足迹的减少，便于其安入任何一种工作环境。 o 0vy! ~.
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——Seica VIVA®软件； )i/RU4dm
——四个独立飞针； q#e#;")
——超过35台计算机辅助设计（CAD）转换器； 'YGbw [%
——无源和有源元件测试； f+& jxw
——自动视觉系统； -[vi-s
——顶部和底部光学检测。
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